扫描电化学显微镜
扫描电化学显微镜(缩写SECM)基于电化学原理工作,可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流。
利用驱动非常小的电极(探针)在靠近样品处进行扫描,样品可以是导体、绝缘体或半导体,从而获得对应的微区电化学和相关信息,目前可达到的最高分辨率约为几十纳米。
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| 常见 | | Typical atomic force microscopy set-up |
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| 其他 |
- 弹道电子发射
- 化学力
- 电导原子力
- 电化学扫描隧道
- 静电力
- 开尔文探针力
- 磁力
- 磁共振力
- 近场扫描光学
- Photothermal microspectroscopy
- 压电力
- 扫描电容
- 扫描电化学
- 扫描门
- 扫描霍尔探针
- 扫描离子电导
- 扫描热
- 自旋极化扫描隧道
- 扫描电压
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| 应用 |
- 扫描探针光刻
- Dip-pen nanolithography
- Feature-oriented scanning
- Millipede内存
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| 参阅 | |
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